X光镀层测厚仪特点：全自动台面自动雷射对焦多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)镀层厚度测试范围：0.03－35um可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度(单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀锌镍合金等)(双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再银,铁上镀铜再镀镍等)多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍,再镀金.铁是镀铜镀镍再镀银等)合金镀层:如铁上镀锡铜,等测量时间：10－30秒精度控制：第一层：±5%以内第二层：±8%以内第三层：±12%以内XRF-2000镀层测厚仪共分三种型号不同型号各种功能一样机箱容纳样品大小有以下不同要求型号介绍H型:测量样品高度不超过10cmL型:测量样品高度不超过3cmPCB型:测量样品高度不超3cm(开放式设计,可检测大型样品提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。
只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果多层镀层的样品也一样能胜任。
全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。
超大/开放式的样品台，可测量较大的产品。
是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业。
可测量各类金属层、合金层厚度等。
可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U） 原子序 22 – 92准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm电脑系统：彩色打印机综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能产品资料