金融界2024年2月21日消息，据国家知识产权局公告，清华大学申请一项名为“一种利用X/γ射线在线测量散状物料真密度的方法及系统“，公开号CN117571543A，申请日期为2024年1月。
专利摘要显示，本申请提出一种利用X/γ射线在线测量散状物料真密度的方法及系统，所述方法包括：获取待测量散状物料的堆积厚度，并基于所述堆积厚度对所述散状物料进行分层；利用主探测器测量出准直的X/γ射线束透射散状物料后的射线强度、利用辅助探测器阵列测量出X/γ射线与物料的康普顿散射射线强度；根据主探测器测量出的所述X/γ射线束透射散状物料后的射线强度和辅助探测器阵列测量出的所述X/γ射线与物料的康普顿散射射线强度确定所述散状物料各层的密度；根据所述散状物料各层的密度确定所述散状物料的真密度。
本申请提出的技术方案，可以准确的测量出散状物料的真密度，为工业生产提供科学的指导。
本文源自金融界