金融界2024年6月7日消息，天眼查知识产权信息显示，恒为科技（上海）股份有限公司申请一项名为“一种对DDR颗粒电气性能进行测试的测试装置“，公开号CN202211555407.1，申请日期为2022年12月。
专利摘要显示，本发明提供了一种对DDR颗粒电气性能进行测试的测试装置，该测试装置通过在待测DDR颗粒芯片和PCB板之间设置一转接板，结合转接板上的测试信号线即可将待测DDR颗粒芯片中需要测试的第一目标信号焊接管脚外接引出，实现对DDR颗粒电气性能的测试，也就是说这一测试装置的设计可以将需要测试的信号通过测试信号线引出，这样既不会影响待测DDR颗粒芯片的正常使用，同时也保证测试的可测性和方便性，并且待测DDR颗粒芯片的被测信号也不受测试装置的影响。
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