最近在出差，以前搞FT测试比较多，CP现场接触不多，最近有幸亲自到现场看看，对于CP（中测，或者叫chip probe）唯一感兴趣的就是探针是怎么扎到wafer上的die的，今天终于知道了。
那就秀一下针卡吧，或者叫探卡，探针卡，PC（prober card）都表示同一个东西。
别看那飞线乱七八糟的，这些黄线都很细，而且外部是有绝缘皮的，并且每根针60软妹币。
下图一共200+探针（话说看到某其他客户的针卡上面一共2200+根探针，我天，一张探针卡成本就20w+）所以说IC就是烧钱的。
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操作方法就是：针卡固定在探针台上；测试机有两种方式把资源引到探卡上：1、用排线；前提是探卡上留有排线插口，这样探卡的限制比较少，可以做的大一些，器件高度也没有严格要求；排线长的有半米到一米左右，但信号质量有限，不适合高速信号；而且资源有限，最多200channel左右（可能受到连接器的体积影响）；2、测试机直接倒扣在探卡上也就是，上边是测试机，中间是探卡，下边是探针台，测试机与探卡连接采用pogo pin方式，下图这种方式，测试机资源到探针的针尖，距离是最短的，利于高速信号；并且通道资源可以做的很多一般可以轻松到1024channel以上；但是探卡外围电路大小和器件高度要求较高。
测试机倒扣在探卡上，PC上写code就可以测试了，移动位置换die的时候，是wafer在动，通过步进电机精确控制，按照事先画好的测试路径移动。
（通常最小是几百微米级甚至更小的距离移动，探针台貌似没见过国产的，一般以UF200系列和UF3000系列为主，XY精度在几个um左右；不幸的是，这个日本生产的）以上图文内容均是EEWORLD论坛网友：wsmysyn 原创，在此感谢。
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